Test data compression using don't-care identification and statistical encoding
Test data compression using don't-care identification and statistical encoding
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使用无关识别和统计编码测试数据压缩
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S.M.Reddy
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Kajihara;K.Taniguchi;K.Miyase;I.Pomeranz;S.M.Reddy
DOI：
10.1109/vts.2002.1011119
发表时间：
2002-04
期刊：
Proceedings 20th IEEE VLSI Test Symposium (VTS 2002)
影响因子：
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作者：
S. Reddy;K. Miyase;S. Kajihara;I. Pomeranz
通讯作者：
S. Reddy;K. Miyase;S. Kajihara;I. Pomeranz
使用预先计算的测试集对时序电路进行内置自测试
DOI：
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发表时间：
1998
期刊：
Proceedings of the ... IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
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作者：
V. Iyengar;K. Chakrabarty;B. Murray
通讯作者：
B. Murray