A high resolution extreme ultraviolet spectrometer system optimized for harmonic spectroscopy and XUV beam analysis.
A high resolution extreme ultraviolet spectrometer system optimized for harmonic spectroscopy and XUV beam analysis.
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针对谐波光谱和 XUV 光束分析而优化的高分辨率极紫外光谱仪系统
DOI：
10.1063/1.5054116
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
C. Rödel
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M. Wünsche;S. Fuchs;T. Weber;J. Nathanael;J. J. Abel;J. Reinhard;F. Wiesner;U. Hübner;S. J. Skruszewicz;G. G. Paulus;C. Rödel
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