Measurements of charge collection efficiency with microstrip detectors made on various substrates after irradiations with neutrons and protons with different energies
Measurements of charge collection efficiency with microstrip detectors made on various substrates after irradiations with neutrons and protons with different energies
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不同能量的中子和质子辐照后，用微带探测器测量各种基底上的电荷收集效率
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Casse, Gianluigi,Affolder, A.,Allport, P.P.,Wormald, M.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Casse, Gianluigi,Affolder, A.,Allport, P.P.,Wormald, M.
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高电阻率n型和p型磁性直拉硅的辐射硬度
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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作者：
G. Segneri;L. Borrello;M. Boscardin;M. Bruzzi;D. Creanza;G. Betta;M. Palma;E. Focardi;A. Macchiolo;N. Manna;D. Menichelli;A. Messineo;C. Piemonte;V. Radicci;S. Ronchin;M. Scaringella;D. Sentenac;N. Zorzi
通讯作者：
N. Zorzi
辐射至 1x1016 n cm−2 的分段硅探测器的电荷收集效率测量
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record
影响因子：
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作者：
G. Casse;A. Affolder;P. Allport
通讯作者：
P. Allport
硅探测器的中子、质子和伽马辐照
DOI：
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发表时间：
1994
期刊：
影响因子：
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作者：
F. Lemeilleur;M. Glaser;E. Heijne;P. Jarron;C. Soave;C. Leroy;J. Rioux;I. Trigger
通讯作者：
I. Trigger
硅微带探测器的加工和复合寿命表征
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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作者：
J. Härkönen;E. Tuominen;K. Lassila;M. Palokangas;M. Yli;V. Ovchinnikov;P. Heikkila;L. Palmu;S. Kallijärvi
通讯作者：
S. Kallijärvi
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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作者：
M. Ravnik;R. Jeraj
通讯作者：
R. Jeraj