Demonstration of dielectric measurement using a probe-backside reflection method up to 300 GHz
Demonstration of dielectric measurement using a probe-backside reflection method up to 300 GHz
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使用高达 300 GHz 的探头背面反射方法进行介电测量演示
DOI：
10.7567/1347-4065/ab36f6
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发表时间：
2019
影响因子：
1.5
通讯作者：
Tsurumi Takaaki
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Sakamaki Ryo;Horibe Masahiro;Yoshida Manabu;Tsurumi Takaaki
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MMIC 共面线的准 TEM 描述（包括导体损耗效应）
DOI：
--
发表时间：
1993
期刊：
影响因子：
--
作者：
W. Heinrich
通讯作者：
W. Heinrich
不确定性分析方法，包括探针对准对晶圆校准过程的影响
影响因子：
5.6
作者：
R. Sakamaki;M. Horibe
通讯作者：
M. Horibe
DOI：
10.1587/elex.16.20181081
发表时间：
2019
期刊：
IEICE Electron. Express
影响因子：
--
作者：
R. Sakamaki;M. Horibe;M. Yoshida
通讯作者：
M. Yoshida
影响因子：
11.2
作者：
Larsson, Erik G.;Edfors, Ove;Marzetta, Thomas L.
通讯作者：
Marzetta, Thomas L.
影响因子：
4.3
作者：
D. Grujić
通讯作者：
D. Grujić