ADC Linearity Test Signal Generation Algorithm
ADC Linearity Test Signal Generation Algorithm
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ADC 线性测试信号生成算法
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Nobuyoshi Ishikawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Satoshi Uemori;Takahiro J. Yamaguchi;Satoshi Ito;Yohei Tan;Haruo Kobayashi;Nobukazu Takai;KiichiNiitsu;Nobuyoshi Ishikawa
A2DTest：片上 ADC 自测试和分析的完整集成解决方案
DOI：
10.1109/test.2009.5355722
发表时间：
2009
期刊：
2009 International Test Conference
影响因子：
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作者：
Brendan Mullane;Vincent O’Brien;Ciaran MacNamee;Thomas Fleischmann
通讯作者：
Thomas Fleischmann
用于 ADC 线性测试的完全数字兼容的 BIST 策略
DOI：
10.1109/test.2007.4437655
发表时间：
2007
期刊：
2007 IEEE International Test Conference
影响因子：
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作者：
Hanqing Xing;Hanjun Jiang;Degang Chen;R. Geiger
通讯作者：
R. Geiger