Atomic resolution top-down nanofabrication with low-current focused-ion-beam thinning
Atomic resolution top-down nanofabrication with low-current focused-ion-beam thinning
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采用低电流聚焦离子束减薄的原子分辨率自上而下纳米加工
DOI：
10.1016/j.mee.2012.07.108
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发表时间：
2012-10
影响因子：
2.3
通讯作者：
Wuxia Li
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Wuxia Li
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影响因子：
--
作者：
Wuxia Li;C. Gu;P. Warburton
通讯作者：
Wuxia Li;C. Gu;P. Warburton
DOI：
10.1063/1.3203244
发表时间：
2009-07
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
Han-Hao Cheng;M. Alkaisi;S. Wu;Chuan-Pu Liu
通讯作者：
Han-Hao Cheng;M. Alkaisi;S. Wu;Chuan-Pu Liu
影响因子：
2.7
作者：
Krzton-Maziopa, A.;Shermadini, Z.;Conder, K.
通讯作者：
Conder, K.
影响因子：
3.7
作者：
M. Zgirski;K. Arutyunov
通讯作者：
M. Zgirski;K. Arutyunov
影响因子：
3.6
作者：
G. Tettamanzi;C. Pakes;S. Lam;S. Prawer
通讯作者：
G. Tettamanzi;C. Pakes;S. Lam;S. Prawer