Micropare x・ray optics using anisotropic wet etching of(110) silicon wafers
Micropare x・ray optics using anisotropic wet etching of(110) silicon wafers
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使用 (110) 硅片各向异性湿法蚀刻的 Micropare X 射线光学器件
DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Y.Ishisaki ほか
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Y.Ezoe;M.Kshiishi;M.Mita;K.Mitsuda;A.Hoshino;Y.Ishisaki ほか
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DOI:
10.1117/12.670240
发表时间:
2005
期刊:
--
影响因子:
--
作者:
M. Bavdaz;D. Lumb;P. Gondoin;A. Lyngvi;N. Rando;T. Peacock;T. van der Laan;K. Wallace;A. Mieremet;S. Oemrawsingh;M. Beijersbergen;M. Collon;S. Kraft;R. Graue;D. Kampf;M. Freyberg
通讯作者:
M. Freyberg
DOI:
--
发表时间:
2005
期刊:
Optics for EUV, X-Ray, Gamma-Ray Astronomy II. Proceedings of the SPIE(Edited by Citterio, Oberto ; O'Dell, Stephen L.) 5900
影响因子:
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作者:
Y.Ezoe;K.Mitsuda;M.Mita;M.Koshiishi;Y.Ishisaki;K.Shinozaki;A.Hoshino
通讯作者:
A.Hoshino
DOI:
10.1117/12.614939
发表时间:
2005
期刊:
--
影响因子:
--
作者:
K. Wallace;M. Collon;M. Bavdaz;M. Beijersbergen;R. Fairbend;J. Séguy;M. Hoffmann;M. Krumrey
通讯作者:
M. Krumrey
DOI:
10.1007/978-3-642-59497-7_144
发表时间:
2001
期刊:
--
影响因子:
--
作者:
C. Mihalcea;S. Khumpuang;M. Kuwahara;Zhen Yang;R. Maeda;J. Tominaga;N. Atoda
通讯作者:
N. Atoda
DOI:
10.1016/s0168-9002(02)01059-8
发表时间:
2002
影响因子:
1.4
作者:
G. Price;A. Brunton;M. Beijersbergen;G. Fraser;M. Bavdaz;J. Boutot;R. Fairbend;S. Flyckt;A. Peacock;Enrico Tomaselli
通讯作者:
Enrico Tomaselli