Use of energy-filtered photoelectron emission microscopy and Kelvin probe force microscopy to visualise work function changes on diamond thin films terminated with oxygen and lithium mono-layers for thermionic energy conversion
Use of energy-filtered photoelectron emission microscopy and Kelvin probe force microscopy to visualise work function changes on diamond thin films terminated with oxygen and lithium mono-layers for thermionic energy conversion
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使用能量过滤光电子发射显微镜和开尔文探针力显微镜来可视化以氧和锂单层封端的金刚石薄膜的功函数变化，以进行热离子能量转换
DOI：
10.1504/ijnt.2014.063789
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发表时间：
2014
影响因子：
0.5
通讯作者：
Andrade H
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Andrade H
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