A Novel Negative-Correlation Redundancy Evolutionary Framework Based on Stochastic Ranking for Fault-Tolerant Design of Analog Circuit
A Novel Negative-Correlation Redundancy Evolutionary Framework Based on Stochastic Ranking for Fault-Tolerant Design of Analog Circuit
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一种基于随机排序的模拟电路容错设计的新型负相关冗余进化框架
DOI：
10.1007/978-3-642-38703-6_65
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发表时间：
2013-06
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Jingsong He
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Chao Lin;Jingsong He
基于负相关冗余技术的容错进化设计是提高不确定故障模拟电路容错性的有效途径。在现有的负相关冗余进化框架中，负相关惩罚系数起着重要的作用，它对负相关冗余进化框架的性能有很大影响。然而，负相关惩罚系数的取值严重依赖于设计者的经验。提出了一种新的基于随机排序策略的负相关冗余进化框架。为了与已有的研究进行比较，我们以模拟滤波器为例进行了设计。实验结果表明，本文提出的框架可以在不指定惩罚系数的情况下产生负相关冗余，并且与ENCF相比具有相对较高的收敛能力。
The fault-tolerant evolutionary design based on negative-correlation redundancy technique is an effective way to improve the fault-tolerance of analog circuits with uncertain faults. In the existing negative-correlation redundancy evolutionary framework (ENCF), the negative-correlation penalty coefficient plays an important role, and it affects the performance of ENCF greatly. However, the value of the negative-correlation penalty coefficient is heavily dependent on the experience of designers. In this paper, we propose a new negative-correlation redundancy evolutionary framework based on stochastic ranking strategy. In order to make comparisons with the existing researches, we employ analog filter as a design example. Experimental results show that the framework proposed in this paper can generate negatively correlated redundancies without specifying the penalty coefficient, and it shows a relatively high ability to convergence compared to ENCF.
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DOI：
10.1109/icsai.2012.6223137
发表时间：
2012-05
期刊：
2012 International Conference on Systems and Informatics (ICSAI2012)
影响因子：
--
作者：
Huan Chang;Jingsong He
通讯作者：
Huan Chang;Jingsong He
影响因子：
7.8
作者：
Liu, Y;Yao, X
通讯作者：
Yao, X
影响因子：
14.3
作者：
Runarsson, TP;Yao, X
通讯作者：
Yao, X
影响因子：
2.6
作者：
Kyung-Joong Kim;Adrian Wong;Hod Lipson
通讯作者：
Kyung-Joong Kim;Adrian Wong;Hod Lipson
DOI：
10.1007/3-540-36553-2_4
发表时间：
2003-03
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
T. Schnier;X. Yao
通讯作者：
T. Schnier;X. Yao