A Case Study of Short Term Cell-Flipping Technique for Mitigating NBTI Degradation on Cache
A Case Study of Short Term Cell-Flipping Technique for Mitigating NBTI Degradation on Cache
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用于减轻 NBTI 缓存退化的短期单元翻转技术案例研究
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
國武勇次
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Arakawa;K.Sekiguchi;Y.Yamauchi;K.Chida;M.Yamada;H.Takahashi;D.Chiba;K.Kobayashi;T.Ono;國武勇次;國武勇次;國武勇次
负偏压和正偏压温度应力对 6T-SRAM 单元的影响
影响因子：
0.4
作者：
S. Drapatz;G. Georgakos;D. Schmitt
通讯作者：
D. Schmitt
用于缓解 SRAM 单元中 NBTI 的信号概率控制
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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作者：
Yuji Kunitake;Toshinori Sato;Hiroto Yasuura
通讯作者：
Hiroto Yasuura