Verification and Testing Considerations of an In-Memory AI Chip
Verification and Testing Considerations of an In-Memory AI Chip
复制标题
内存 AI 芯片的验证和测试注意事项
DOI：
10.1109/natw49237.2020.9153079
复制
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Johnson, Angela
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Golmohamadi, Marcia;Jurasek, Ryan;Hokenmaier, Wolfgang;Labrecque, Don;Zhi, Ruoyu;Dale, Bret;Islam, Nibir;Kinney, Dave;Johnson, Angela
登录
查看更多内容
具有闪存 SPI 兼容性的 90nm 32-mb 相变存储器
DOI：
10.1109/imw.2014.6849379
发表时间：
2014
期刊：
2014 IEEE 6th International Memory Workshop (IMW)
影响因子：
--
作者：
W. Hokenmaier;D. Labrecque;R. Jurasek;V. Butler;C. Scoville;Aaron Willey;S. Loeffler;Yuanxing Li;Sourabh Sharma
通讯作者：
Sourabh Sharma
提高神经网络在推理过程中抵抗位翻转错误的鲁棒性
影响因子：
--
作者：
Minghai Qin;San Jose California Usa Western Digital Coporation;Chao Sun;D. Vučinić
通讯作者：
D. Vučinić
DOI：
--
发表时间：
2018-06
期刊：
ArXiv
影响因子：
--
作者：
M. Imani;Mohammad Samragh;Yeseong Kim;Saransh Gupta;F. Koushanfar;Tajana Simunic
通讯作者：
M. Imani;Mohammad Samragh;Yeseong Kim;Saransh Gupta;F. Koushanfar;Tajana Simunic
使用 Checker 神经元的错误弹性神经形态网络
DOI：
10.1109/iolts.2018.8474075
发表时间：
2018
期刊：
International On-Line Testing Symposium
影响因子：
--
作者：
Pandey, Sujay;Banerjee, Suvadeep;Chatterjee, Abhijit
通讯作者：
Chatterjee, Abhijit
通过扫描链进行非并发在线测试
DOI：
10.1109/autest.2006.283749
发表时间：
2006
期刊：
2006 IEEE Autotestcon
影响因子：
--
作者：
H. Al;P. Moore
通讯作者：
P. Moore