Embedded cavity based dielectric loss measurements for LTCC substrates up to 110 GHz
Embedded cavity based dielectric loss measurements for LTCC substrates up to 110 GHz
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针对频率高达 110 GHz 的 LTCC 基板进行基于嵌入式腔体的介电损耗测量
DOI:
10.1109/nemo.2015.7415066
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发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Alexander Koelpin
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Armin Talai;Frank Steinhäußer;Achim Bittner;Thomas Rittweg;Dieter Schwanke;Ulrich Schmid;Robert Weigel;Alexander Koelpin
DOI:
--
发表时间:
2013
期刊:
International Conference on Electromagnetics in Advanced Applications
影响因子:
--
作者:
A. Talai;Frank Steinhauser;B. Gmeiner;A. Bittner;U. Rude;U. Schmid;R. Weigel;A. Koelpin
通讯作者:
A. Koelpin
DOI:
--
发表时间:
2014
期刊:
IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics Modeling and Optimization
影响因子:
--
作者:
A. Talai;R. Weigel;A. Koelpin;Frank Steinhauser;A. Bittner;U. Schmid
通讯作者:
U. Schmid
DOI:
--
发表时间:
2014
期刊:
International Conference on Electromagnetics in Advanced Applications
影响因子:
--
作者:
A. Talai;F. Steinhausser;B. Gmeiner;M. Wegener;A. Bittner;U. Deisinger;U. Schmid;A. Roosen;R. Weigel;A. Koelpin
通讯作者:
A. Koelpin