Embedded cavity based dielectric loss measurements for LTCC substrates up to 110 GHz

Embedded cavity based dielectric loss measurements for LTCC substrates up to 110 GHz
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针对频率高达 110 GHz 的 LTCC 基板进行基于嵌入式腔体的介电损耗测量

DOI:
10.1109/nemo.2015.7415066
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发表时间:
2015
期刊:
2015 IEEE MTT-S International Conference on Numerical Electromagnetic and Multiphysics Modeling and Optimization (NEMO)
影响因子:
--
通讯作者:
Alexander Koelpin
Alexander Koelpin
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Armin Talai;Frank Steinhäußer;Achim Bittner;Thomas Rittweg;Dieter Schwanke;Ulrich Schmid;Robert Weigel;Alexander Koelpin

文献摘要

参考文献

被引文献

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通讯作者: A. Koelpin