Condition refinement of point-contact current imaging atomic force microscopy for molecular-scale measurement
Condition refinement of point-contact current imaging atomic force microscopy for molecular-scale measurement
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用于分子尺度测量的点接触电流成像原子力显微镜的条件改进
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
and Takuji Ogawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hirofumi Tanaka;Takashi Yajima;Takuya Matsumoto;and Takuji Ogawa
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束中单个单壁碳纳米管的局部电流密度检测
影响因子：
4
作者：
A. Fujiwara;R. Iijima;K. Ishii;H. Suematsu;H. Kataura;Y. Maniwa;S. Suzuki;Y. Achiba
通讯作者：
Y. Achiba
点接触电流成像原子力显微镜测量单壁碳纳米管/100聚体卟啉体系的电子性质
DOI：
--
发表时间：
2006
期刊：
J.Nanosci. and Nanotechnol. (In press)
影响因子：
--
作者：
Hirofumi Tanaka;Takashi Yajima;Masahiro Kawao;Takuji Ogawa
通讯作者：
Takuji Ogawa
影响因子：
29.4
作者：
Tanaka, Hirofumi;Yajima, Takashi;Ogawa, Takuji
通讯作者：
Ogawa, Takuji
影响因子：
4
作者：
Ayumu Terawaki;Y. Otsuka;HeaYeon Lee;T. Matsumoto;Hidekazu Tanaka;T. Kawai
通讯作者：
Ayumu Terawaki;Y. Otsuka;HeaYeon Lee;T. Matsumoto;Hidekazu Tanaka;T. Kawai
通过探针原子力显微镜测量掺入自组装单层的二苯乙烯基分子的电导率
影响因子：
1.5
作者：
H. Azehara;T. Liang;T. Ishida;Y. Naitoh;W. Mizutani
通讯作者：
W. Mizutani