28 nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるデバイスシミュレーションによるのソフトエラー耐性の評価
28 nm UTBB FD-SOIプロセスにおけるデバイスシミュレーションによるのソフトエラー耐性の評価
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28 nm UTBB FD-SOI 工艺中通过器件仿真评估软错误容限
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小林和淑
中科院分区：
文献类型：
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作者：
梅原成宏;張魁元;一二三潤;古田潤;小林和淑
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影响因子：
3.9
作者：
Ballo, Andrea;Grasso, Alfio Dario;Palumbo, Gaetano
通讯作者：
Palumbo, Gaetano
适用于自供电物联网应用的具有二维调频功能的全集成可重构电荷泵
DOI：
10.1109/tcsi.2020.3012504
发表时间：
2020
期刊：
IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers
影响因子：
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作者：
Hao;W. Tsai;Po;Po
通讯作者：
Po
适用于能量收集应用的增益控制、低泄漏 Dickson 电荷泵
DOI：
10.1109/tvlsi.2019.2897046
发表时间：
2019
影响因子：
2.8
作者：
Abdulqader Mahmoud;Mohammad Alhawari;B. Mohammad;H. Saleh;Mohammed Ismail
通讯作者：
Mohammed Ismail
28 nm UTBB FD-SOI CMOS 中具有正向体偏置的三级电荷泵
DOI：
10.1109/lascas51355.2021.9459174
发表时间：
2021
期刊：
2021 IEEE 12th Latin America Symposium on Circuits and System (LASCAS)
影响因子：
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作者：
Carlos A. Pinheiro;F. Olivera;A. Petraglia
通讯作者：
A. Petraglia
UTBB FDSOI 设计中的 Body Bias 使用：参数化探索方法
影响因子：
1.7
作者：
D. Puschini;J. Rodas;E. Beigné;M. Altieri;S. Lesecq
通讯作者：
S. Lesecq