Increased versatility for carrier profiling of semiconductors by scanning frequency comb microscopy (SFCM)
Increased versatility for carrier profiling of semiconductors by scanning frequency comb microscopy (SFCM)
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通过扫描频率梳显微镜 (SFCM) 提高半导体载流子分析的多功能性
DOI：
10.1109/wmed.2017.7916928
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Hagmann, Mark J.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Birch, Timothy;Hagmann, Mark J.
在扫描隧道显微镜中首次测量微波频率梳和半导体样品
DOI：
10.1109/wmed.2016.7458278
发表时间：
2016
期刊：
First Measurements of a Microwave Frequency Comb with a Semiconductor Sample in a Scanning Tunneling Microscope
影响因子：
--
作者：
Rhoades, Chad;Rasmussen, Joel;Bowles, Patrick H.;Hagmann, Mark J.;Yarotski, Dmitry A.
通讯作者：
Yarotski, Dmitry A.
微波频率梳归因于锁模超快激光器在半导体表面形成偶极子
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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作者：
M. Hagmann;S. Pandey;A. Nahata;A. Taylor;D. Yarotski
通讯作者：
D. Yarotski