First Measurements of a Microwave Frequency Comb with a Semiconductor Sample in a Scanning Tunneling Microscope
First Measurements of a Microwave Frequency Comb with a Semiconductor Sample in a Scanning Tunneling Microscope
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在扫描隧道显微镜中首次测量微波频率梳和半导体样品
DOI：
10.1109/wmed.2016.7458278
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Yarotski, Dmitry A.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Rhoades, Chad;Rasmussen, Joel;Bowles, Patrick H.;Hagmann, Mark J.;Yarotski, Dmitry A.
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DOI：
--
发表时间：
1993
期刊：
影响因子：
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作者：
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通讯作者：
M. Shur
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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作者：
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通讯作者：
A. Mcteer
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发表时间：
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通讯作者：
D. Yarotski
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影响因子：
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M. Hagmann;S. Pandey;A. Nahata;A. Taylor;D. Yarotski
通讯作者：
D. Yarotski