Study of Low-Frequency Noise Performance of Nanobridge-Based SQUIDs in External Magnetic Fields
Study of Low-Frequency Noise Performance of Nanobridge-Based SQUIDs in External Magnetic Fields
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基于纳米桥的 SQUID 在外部磁场中的低频噪声性能研究
DOI：
10.1109/tasc.2012.2233537
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发表时间：
2013
影响因子：
1.8
通讯作者：
Rozhko S
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Rozhko S
我们报告了铌直流超导量子干涉器件（SQUID）的低频噪声性能，该器件包含通过聚焦离子束光刻制造的纳米桥作为有源约瑟夫森元件。这些器件的特征尺寸小至 70 nm。我们在两种读出配置中测量了不同环路尺寸的器件：使用串联 SQUID 阵列作为低温前置放大器的小信号模式下的纳米级环路尺寸，以及传统磁通锁定环路中较大的微米级环路尺寸。我们研究了对低频噪声的不同贡献，并报告了在 7 K 左右的工作温度下，在高达 0.5 T（面内）和 0.1 T（垂直于平面）的外加磁场中进行的电气测量。我们将测量结果与直流 SQUID 中的现有噪声理论进行了比较。
We report on the low-frequency noise performance of niobium dc superconducting quantum interference devices (SQUIDs), which contain nanobridges fabricated by focused ion beam lithography as the active Josephson elements. The devices have feature sizes down to 70 nm. We have measured devices of different loop sizes in two readout configurations: nano-scale loop sizes in small signal mode using a series SQUID array as a low-temperature pre-amplifier, and larger micron-scale loop sizes in a conventional flux-locked loop. We investigate the different contributions to the low frequency noise and report on electrical measurements made in applied magnetic fields of up to 0.5 T (in-plane) and 0.1 T (perpendicular to the plane) at operating temperatures around 7 K. We compare the measurements with the existing theories of noise in a dc SQUID.
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