Application of neutron stress measurement method without stress-free lattice constant to practical material
Application of neutron stress measurement method without stress-free lattice constant to practical material
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无应力晶格常数中子应力测量方法在实际材料中的应用
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H.Suzuki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takayuki Aoki;Kaori Kato;Tei Saburi;Masatake Yoshida;H.Suzuki
通过中子衍射测量承插焊接头的残余应力
DOI：
10.2472/jsms.44.1464
发表时间：
1995
期刊：
Journal of The Society of Materials Science, Japan
影响因子：
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作者：
M. Hayashi;M. Ishiwata;N. Minakawa;S. Funahashi
通讯作者：
S. Funahashi
已安装硅芯片的 X 射线应力测量
影响因子：
1.5
作者：
N. Fujii;K. Inui;S. Kozaki
通讯作者：
S. Kozaki
使用同步辐射对单晶进行局部 X 射线应力测量。
DOI：
10.2472/jsms.50.783
发表时间：
2001
期刊：
Journal of The Society of Materials Science, Japan
影响因子：
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作者：
H. Suzuki;K. Akita;Y. Yoshioka;H. Misawa
通讯作者：
H. Misawa