Contact-free scanning and imaging with the scanning ion conductance microscope.
Contact-free scanning and imaging with the scanning ion conductance microscope.
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DOI：
10.1021/ac402748j
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发表时间：
2014-03-04
影响因子：
7.4
通讯作者：
Moss, Guy
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Del Linz, Samantha;Willman, Eero;Caldwell, Matthew;Klenerman, David;Fernandez, Anibal;Moss, Guy
扫描离子电导显微镜（SICM）提供了获得非常高分辨率的活细胞形貌图像的能力。SICM的最大优势之一在于它能够执行非接触式扫描。但是，目前尚不清楚何时满足这种扫描模式的要求。我们已经使用有限元建模（FEM）来检查无接触扫描的条件。我们的研究结果提供了一个框架，了解无接触模式的SICM，也扩展了以前的研究结果与SICM决议。最后，我们证明了我们的研究结果的重要性，准确的生物成像。
Scanning ion conductance microscopy (SICM) offers the ability to obtain very high-resolution topographical images of living cells. One of the great advantages of SICM lies in its ability to perform contact-free scanning. However, it is not yet clear when the requirements for this scan mode are met. We have used finite element modeling (FEM) to examine the conditions for contact-free scanning. Our findings provide a framework for understanding the contact-free mode of SICM and also extend previous findings with regard to SICM resolution. Finally, we demonstrate the importance of our findings for accurate biological imaging.
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