Effect of Fluorine Atom on Acid Generation in Chemically Amplified EUV Resist
Effect of Fluorine Atom on Acid Generation in Chemically Amplified EUV Resist
复制标题
氟原子对化学放大型 EUV 光刻胶中酸生成的影响
DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
J. Onodera
中科院分区:
文献类型:
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作者:
H. Yamamoto;T. Kozawa;S. Tagawa;H. Yukawa;M. Sato;J. Onodera
DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
J. Vac. Sci. Technol. B
影响因子:
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作者:
T. Kozawa;S. Tagawa;H. Oizumi;I. Nishiyama
通讯作者:
I. Nishiyama
DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
Journal of Vacuum Science &. Technology B. 24
影响因子:
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作者:
Hiroki Yamamoto;Takahiro Kozawa;Kazumasa Okamoto;Akinori Saeki;Seiichi Tagawa;Tomoyuki Ando;Mitsuru Sato;Hiroji Komano
通讯作者:
Hiroji Komano
DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
Jpn. J. Appl. Phys.
影响因子:
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作者:
H. Yamamoto;T. Kozawa;S. Tagawa;H. B. Cao;H. Deng;M. J. Leeson
通讯作者:
M. J. Leeson