Multilayer model for determining the thickness and refractive index of sol–gel coatings via laser ellipsometry
Multilayer model for determining the thickness and refractive index of sol–gel coatings via laser ellipsometry
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通过激光椭偏仪测定 solâgel 涂层的厚度和折射率的多层模型
DOI：
10.1016/j.tsf.2012.12.038
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
2.1
通讯作者：
L. Mädler
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
V. L. Y. Loke;N. Riefler;A. Mehner;T. Prenzel;T. Hoja;T. Wriedt;L. Mädler
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DOI：
--
发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
作者：
N. Kitamura;K. Fukumi;J. Nishii;N. Ohno
通讯作者：
N. Ohno
DOI：
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发表时间：
1992
期刊：
影响因子：
--
作者：
B. A. Raad;I. Jacobs
通讯作者：
I. Jacobs
影响因子：
3.7
作者：
Louis, Benjamin;Krins, Natacha;Grosso, David
通讯作者：
Grosso, David
DOI：
10.1016/s1463-0184(02)00028-x
发表时间：
2002-09-01
期刊：
CRYSTAL ENGINEERING
影响因子：
--
作者：
Daoudi, K;Sandu, CS;Bessaïs, B
通讯作者：
Bessaïs, B
用光谱椭圆光度法表征溶胶-凝胶薄膜
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
--
作者：
H. Xie;J. Wei;X. Zhang
通讯作者：
X. Zhang