Results of the 2015 testbeam of a 180 nm AMS High-Voltage CMOS sensor prototype
Results of the 2015 testbeam of a 180 nm AMS High-Voltage CMOS sensor prototype
复制标题
2015 年 180 nm AMS 高压 CMOS 传感器原型测试光束的结果
DOI：
10.1088/1748-0221/11/07/p07019
复制
发表时间：
2016
影响因子：
1.3
通讯作者：
Benoit M
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Benoit M
登录
查看更多内容
采用艾迈斯半导体 H18 高压工艺制造的中子辐照 CMOS 传感器的辐射硬度研究
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. F. García;C. Gallrapp;M. Moll;D. Muenstermann
通讯作者：
D. Muenstermann
使用 Judith 软件同步分析测试光束数据
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
作者：
G. McGoldrick;M. Červ;A. Gorišek
通讯作者：
A. Gorišek
ATLAS 可插入 B 层的生产、集成和调试以及 HL-LHC 新像素技术的测试光束研究
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
J. Mendizabal
通讯作者：
J. Mendizabal
用于测试光束实验中粒子跟踪的 FE-I4 望远镜
影响因子：
1.3
作者：
M. Benoit;J. Mendizabal;F. D. Bello;D. Ferrere;T. Golling;S. Gonzalez;G. Iacobucci;M. Kocián;D. Muenstermann;B. Ristic;A. Sciuccati
通讯作者：
A. Sciuccati
Python编程计算机自适应测试的开发
DOI：
--
发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
作者：
Kana OHASHI;Haruki UENO;Osamu HASEGAWA;Hiroshi KOMATSUGAWA;Hiroto YAMAKAWA
通讯作者：
Hiroto YAMAKAWA