Test of a fine pitch SOI pixel detector with laser beam

Test of a fine pitch SOI pixel detector with laser beam
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使用激光束测试细间距 SOI 像素探测器

DOI：
10.1088/1674-1137/40/1/016202
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发表时间：
2016
期刊：
Chinese Physics C
影响因子：
3.6
通讯作者：
Qun Ou-Yang
Qun Ou-Yang
中科院分区：
物理与天体物理3区
文献类型：
--
作者：
Yi Liu;Yunpeng Lu;Xudong Ju;Qun Ou-Yang

文献摘要

参考文献

被引文献

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