Structural study of Si(111)-6x1-Ag surface using surface x-ray diffraction
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使用表面 X 射线衍射研究 Si(111)-6x1-Ag 表面的结构
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H.Kawata
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K.Sumitani;K.Masuzawa;T.Hoshino;R.Yoshida;S.Nakatani;T.Takahashi;H.Tajiri;K.Akimoto;H.Sugiyama;X.Zhang;H.Kawata
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通过 Si(111)-√21 × √21-(Ag+Au) 结构表面能带的导电
影响因子：
1.9
作者：
Chun;X. Tong;S. Hasegawa;S. Ino
通讯作者：
S. Ino
低温下额外吸附银的 Si(111)- 3 × 3 -Ag 表面的结构和电导率
影响因子：
3.7
作者：
X. Tong;S. Hasegawa;S. Ino
通讯作者：
S. Ino
使用六圆表面X射线衍射仪研究Si(001)清洁表面结构
影响因子：
1.9
作者：
M. Takahasi;S. Nakatani;Y. Ito;Toshio Takahashi;Xiaowei Zhang;M. Ando
通讯作者：
M. Ando
影响因子：
3.7
作者：
Tong, X;Jiang, CS;Hasegawa, S
通讯作者：
Hasegawa, S
DOI：
--
发表时间：
1997
期刊：
影响因子：
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作者：
S. Hasegawa;X. Tong;Chun;Y. Nakajima;T. Nagao
通讯作者：
T. Nagao