Thickness-dependent angular dependent magnetoresistance in single-crystalline Co film and Co/Pt heterostructures
Thickness-dependent angular dependent magnetoresistance in single-crystalline Co film and Co/Pt heterostructures
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单晶 Co 薄膜和 Co/Pt 异质结构中厚度相关的角度相关磁阻
DOI：
10.1016/j.jmmm.2020.166863
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发表时间：
2020-08
影响因子：
2.7
通讯作者：
Yizheng Wu
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Mengwen Jia;Fanlong Zeng;Xia Xiao;Chao Zhou;Xiaofeng Hu;Yizheng Wu
我们报告了一个不寻常的角相关磁阻（ADMR）在单晶Co薄膜生长在Al 2 O3（0 0 1）。厚度为4.4 nm的Co膜显示出几乎为零的各向异性磁电阻的任意磁化方向，和ADMR的符号反转与Co厚度。通过系统地测量单晶Co/Pt、Pt/Co和Pt/Co/Pt中Co厚度依赖的各向异性电导，我们发现生长在Pt底层上的Co层的ADMR与生长在Al 2 O3上的Co层的ADMR（0 0 0 1）显著不同。我们的研究结果表明，作为Pt厚度的函数的Co层的输运性质必须被考虑，以更好地理解自旋霍尔磁电阻在Co/Pt双层。
We report an unusual angular dependent magnetoresistance (ADMR) in single-crystalline Co films grown on Al2O3(0 0 0 1). The Co film with a thickness of 4.4 nm shows nearly zero anisotropic magnetoresistance for arbitrary magnetization orientations, and the sign of the ADMR reverses with changing Co thickness. By systematically measuring the Co-thickness-dependent anisotropic conductance in single-crystal Co/Pt, Pt/Co, and Pt/Co/Pt, we reveal that the ADMR of the Co layer grown on the Pt underlayer is significantly different from that of the Co layer grown on Al2O3(0 0 0 1). Our results suggest that the transport properties of the Co layer as a function of Pt thickness must be considered in order to better understand the spin Hall magnetoresistance in the Co/Pt bilayer.
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