Detection of finger interruptions in silicon solar cells using photoluminescence imaging
Detection of finger interruptions in silicon solar cells using photoluminescence imaging
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使用光致发光成像检测硅太阳能电池中的手指干扰
DOI：
10.1088/1674-1056/27/6/068801
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发表时间：
2018-06
影响因子：
1.7
通讯作者：
Lei Zhang
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Lei Zhang
手指中断是丝网印刷太阳能电池中的常见问题，由于有效串联电阻较高，导致效率表现不佳。电致发光 (EL) 成像通常用于识别中断的手指。在本文中，我们展示了一种基于光致发光（PL）成像的替代方法来识别局部串联电阻缺陷，特别关注手指中断。分析并验证了在电流提取下使用 PL 成像检测手指中断的能力。然后详细研究了外部偏置控制和照明强度对 PL 图像的影响。最后，与EL成像相比，利用PL成像来识别手指中断具有显着的优势：在PL图像中，受手指中断影响的区域表现出较高的发光强度，而受复合缺陷影响的区域表现出较低的发光强度。这种反信号对比度使 PL 成像能够更准确地识别缺陷类型。
Finger interruptions are common problems in screen printed solar cells, resulting in poor performance in efficiency because of high effective series resistance. Electroluminescence (EL) imaging is typically used to identify interrupted fingers. In this paper, we demonstrate an alternative method based on photoluminescence (PL) imaging to identify local series resistance defects, with a particular focus on finger interruptions. Ability to detect finger interruptions by using PL imaging under current extraction is analyzed and verified. The influences of external bias control and illumination intensity on PL images are then studied in detail. Finally, in comparison with EL imaging, the using of PL imaging to identify finger interruptions possesses the prominent advantages: in PL images, regions affected by interrupted fingers show higher luminescence intensity, while regions affected by recombination defects show lower luminescence intensity. This inverse signal contrast allows PL imaging to more accurately identify the defect types.
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