In-situ analysis of optoelectronic properties of twin boundaries in AlGaAs by polarized cathodoluminescence spectroscopy in a TEM
In-situ analysis of optoelectronic properties of twin boundaries in AlGaAs by polarized cathodoluminescence spectroscopy in a TEM
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利用 TEM 中的偏振阴极发光光谱对 AlGaAs 中孪晶界的光电特性进行原位分析
DOI:
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发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Y.Ohno
中科院分区:
文献类型:
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作者:
H. Okamoto;D. Ito;K. Onomitsu;H. Yamaguchi;Y.Ohno
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DOI:
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发表时间:
2008
期刊:
Applied Surface Science 254
影响因子:
--
作者:
Y. Ohno;K. Shoda;T. Taishi;I. Yonenaga;S. Takeda
通讯作者:
S. Takeda
DOI:
10.1093/jmicro/51.5.281
发表时间:
2002
期刊:
Journal of electron microscopy
影响因子:
--
作者:
Y. Ohno;S. Takeda
通讯作者:
S. Takeda
影响因子:
4
作者:
J. Kasai;M. Kawata
通讯作者:
M. Kawata
DOI:
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发表时间:
2007
期刊:
Jpn. J. Appl. Phys. 46
影响因子:
--
作者:
Y. Ohno;N. Yamamoto;K. Shoda and S. Takeda
通讯作者:
K. Shoda and S. Takeda
影响因子:
64.8
作者:
Franceschetti, A;Zunger, A
通讯作者:
Zunger, A