FOF: Functionally Observable Fault and its ATPG Techniques
FOF: Functionally Observable Fault and its ATPG Techniques
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FOF：功能可观察故障及其 ATPG 技术
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Satoshi Jo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masahiro Fujita;Takeshi Matsumoto;Satoshi Jo
DOI：
10.1145/217474.217564
发表时间：
1995
期刊：
32nd Design Automation Conference
影响因子：
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作者：
J. Jain;R. Mukherjee;M. Fujita
通讯作者：
M. Fujita
基于SAT的带LUT插入的组合电路自动校正与调试
影响因子：
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作者：
S. Jo;T. Matsumoto;and M. Fujita
通讯作者：
and M. Fujita