Study on Relation Between Voltage-induced Switching Behavior and Self-sustained Electrical Oscillations in Vanadium Dioxide Thin Films
Study on Relation Between Voltage-induced Switching Behavior and Self-sustained Electrical Oscillations in Vanadium Dioxide Thin Films
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二氧化钒薄膜电压感应开关行为与自持电振荡关系的研究
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Toshihiro Nakanishi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Lamisa Hoque;Md. Suruz Mian;Kunio Okimura;Toshihiro Nakanishi
影响因子：
4.6
作者：
Parihar A;Shukla N;Jerry M;Datta S;Raychowdhury A
通讯作者：
Raychowdhury A
VO2 层状结构的耦合振荡：实验和模拟方法
影响因子：
3.2
作者：
R. Tobe;Md. Suruz Mian;K. Okimura
通讯作者：
K. Okimura
电感耦合等离子体辅助溅射制备化学计量金属-绝缘体转变V0_2薄膜的优势
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
Thin Solid Films Vol. 516
影响因子：
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作者：
Yusuke;Nihei;Yusuke;Sasakawa;Kunio;Okimura
通讯作者：
Okimura