The Technological Arms Race in Hardware Security
The Technological Arms Race in Hardware Security
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硬件安全领域的技术军备竞赛
DOI：
10.1109/emcsi39492.2022.9889394
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Schaumont, Patrick
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Tajik, Shahin;Schaumont, Patrick
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纳米级器件的背面电子束探测
DOI：
--
发表时间：
2007
期刊：
2007 IEEE International Test Conference
影响因子：
--
作者：
R. Schlangen;R. Leihkauf;U. Kerst;C. Boit;Rajesh Jain;T. Malik;K. Wilsher;T. Lundquist;Bernd Krüger
通讯作者：
Bernd Krüger
影响因子：
5.4
作者：
D. Das;Josef Danial;Anupam Golder;Nirmoy Modak;Shovan Maity;Baibhab Chatterjee;Dong-Hyun Seo;Muya Chang;Avinash L. Varna;H. Krishnamurthy;S. Mathew;Santosh K. Ghosh;A. Raychowdhury;Shreyas Sen
通讯作者：
D. Das;Josef Danial;Anupam Golder;Nirmoy Modak;Shovan Maity;Baibhab Chatterjee;Dong-Hyun Seo;Muya Chang;Avinash L. Varna;H. Krishnamurthy;S. Mathew;Santosh K. Ghosh;A. Raychowdhury;Shreyas Sen
影响因子：
5.4
作者：
Arvind Singh;Monodeep Kar;Venkata Chaitanya Krishna Chekuri;S. Mathew;Anand Rajan;V. De;S. Mukhopadhyay
通讯作者：
Arvind Singh;Monodeep Kar;Venkata Chaitanya Krishna Chekuri;S. Mathew;Anand Rajan;V. De;S. Mukhopadhyay
减轻细粒度电磁侧信道攻击的物理设计策略
DOI：
10.1109/cicc51472.2021.9431438
发表时间：
2021
期刊：
IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC
影响因子：
--
作者：
Wang, Meizhi;Iyer, Vishnuvardhan V.;Xie, Shanshan;Li, Ge;Mathew, Sanu K.;Kumar, Raghavan;Orshansky, Michael;Yilmaz, Ali E.;Kulkarni, Jaydeep P.
通讯作者：
Kulkarni, Jaydeep P.
用于基于布局的功率噪声侧通道泄漏分析的快速、全面的仿真方法
DOI：
10.1109/ises50453.2020.00038
发表时间：
2020
期刊：
2020 IEEE International Symposium on Smart Electronic Systems (iSES) (Formerly iNiS)
影响因子：
--
作者：
Lang Lin;D. Selvakumaran;Deqi Zhu;N. Chang;C. Chow;M. Nagata;Kazuki Monta
通讯作者：
Kazuki Monta