Probing Attacks on Integrated Circuits: Challenges and Research Opportunities
Probing Attacks on Integrated Circuits: Challenges and Research Opportunities
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探索对集成电路的攻击：挑战和研究机会
DOI：
10.1109/mdat.2017.2729398
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发表时间：
2017
影响因子：
2
通讯作者：
Shi, Qihang
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Wang, Huanyu;Forte, Domenic;Tehranipoor, Mark M.;Shi, Qihang
现代 IC 调试和诊断工具带来的安全风险
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography
影响因子：
--
作者：
C. Boit;Clemens Helfmeier;U. Kerst
通讯作者：
U. Kerst
一种布局驱动框架，用于评估 IC 对微探测攻击的脆弱性
DOI：
10.1109/hst.2016.7495575
发表时间：
2016
期刊：
2016 IEEE International Symposium on Hardware Oriented Security and Trust (HOST)
影响因子：
--
作者：
Qihang Shi;Navid Asadizanjani;Domenic Forte;M. Tehranipoor
通讯作者：
M. Tehranipoor
iPhone 5c NAND镜像之路坎坷
DOI：
10.17863/cam.23095
发表时间：
2016
期刊：
ArXiv
影响因子：
--
作者：
S. Skorobogatov
通讯作者：
S. Skorobogatov