X-ray emission from 424-MeV/u C ions impacting on selected target
X-ray emission from 424-MeV/u C ions impacting on selected target
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424-MeV/u C 离子发射的 X 射线撞击选定的目标
DOI：
10.1088/1674-1056/25/2/023402
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发表时间：
2016-01
影响因子：
1.7
通讯作者：
周贤明
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
周贤明
测量了由 424-MeV/u C6+ 离子撞击引起的 Ti、V、Fe、Co、Ni、Cu 和 Zn 的 K 壳层 X 射线。发现由于L壳多重电离，K x射线向高能侧移动，并且K beta/K alpha的强度比大于原子数据。 X 射线产生截面是根据实验计数推导出来的，并与二元遭遇近似 (BEA)、平面波近似 (PWBA) 和能量损失库仑排斥扰动稳态相对论 (ECPSSR) 理论预测进行比较。考虑多重电离荧光产率的BEA模型与实验结果吻合较好。此外，还给出了作为目标原子 K 壳层结合能函数的横截面。
The K-shell x-rays of Ti, V, Fe, Co, Ni, Cu, and Zn induced by 424-MeV/u C6+ ion impact are measured. It is found that the K x-ray shifts to the high energy side and the intensity ratio of K beta/K alpha is larger than the atomic data, owing to the L-shell multiple-ionization. The x-ray production cross sections are deduced from the experimental counts and compared with the binary encounter approximation (BEA), plane wave approximation (PWBA) and energy-loss Coulomb-repulsion perturbed-stationary-state relativistic (ECPSSR) theoretical predictions. The BEA model with considering the multipleionization fluorescence yield is in better consistence with the experimental results. In addition, the cross section as a function of target atomic K-shell binding energy is presented.
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影响因子：
2.9
作者：
J. Mcguire;P. Richard
通讯作者：
J. Mcguire;P. Richard
DOI：
10.2172/14137
发表时间：
1998-01
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
Stephen;E. Bodnert;Denis;G. Colombant;John H. GardneF;Robert;H. Lehmberg;P. Stephen
通讯作者：
Stephen;E. Bodnert;Denis;G. Colombant;John H. GardneF;Robert;H. Lehmberg;P. Stephen
重离子引起的M X射线发射的多重电离效应
影响因子：
2.6
作者：
Wang, Xing;Zhao, Yongtao;Xiao, Guoqing
通讯作者：
Xiao, Guoqing
影响因子：
2.9
作者：
E. Kessler;R. Deslattes;D. Girard;W. Schwitz;L. Jacobs;O. Renner
通讯作者：
E. Kessler;R. Deslattes;D. Girard;W. Schwitz;L. Jacobs;O. Renner
影响因子：
--
作者：
M. Gryziński
通讯作者：
M. Gryziński