Measurement of Strain Distribution in InGaAsP Selective-Area Growth Layers Using a Micro-Area X-ray Diffraction Method with a Sub-mm Spatial Resolution
Measurement of Strain Distribution in InGaAsP Selective-Area Growth Layers Using a Micro-Area X-ray Diffraction Method with a Sub-mm Spatial Resolution
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使用具有亚毫米空间分辨率的微区 X 射线衍射方法测量 InGaAsP 选择性区域生长层中的应变分布
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
J.Matsui
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Kimura;Y.Kagoshima;K.Kobayashi;K.Izumi;Y.Sakata;S.Sudo;K.Yokoyama;T.Niimi;Y.Tsusaka;J.Matsui
使用带隙能量控制选择性 MOVPE 的低驱动电压 (1.5 Vp.p.) 和高功率 DFB-LD/调制器集成光源
DOI：
10.1049/el:19960092
发表时间：
1996
期刊：
影响因子：
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作者：
H. Yamazaki;Y. Sakata;M. Yamaguchi;Y. Inomoto;K. Komatsu
通讯作者：
K. Komatsu
X射线掩模制造技术在高分辨率、大直径Ta菲涅尔波带片中的应用
影响因子：
2.3
作者：
A. Ozawa;T. Tamamura;T. Ishii;H. Yoshihara;T. Kagoshima
通讯作者：
T. Kagoshima