Techniques for Finding Xs in Test Sequences for Sequential Circuits and Applications of Test Length/Power Reductior
Techniques for Finding Xs in Test Sequences for Sequential Circuits and Applications of Test Length/Power Reductior
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时序电路测试序列中查找 X 的技术以及测试长度/功率缩减器的应用
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y.Takamatsu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Higami;S.Kajihara;S.Kobayeshi;Y.Takamatsu
DOI：
10.1109/vtest.1998.670864
发表时间：
1998
期刊：
Proceedings of the ... IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
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作者：
I. Pomeranz;S. Reddy
通讯作者：
S. Reddy
一种在时序电路的测试序列中查找无关值的方法
DOI：
10.1109/iccd.2003.1240927
发表时间：
2003
期刊：
Proceedings 21st International Conference on Computer Design
影响因子：
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作者：
Y. Higami;Shin;Y. Takamatsu;S. Kajihara;I. Pomeranz
通讯作者：
I. Pomeranz
PROPTEST：使用测试压缩的基于属性的时序电路测试模式生成器
DOI：
10.1109/dac.1999.782023
发表时间：
1999
期刊：
Proceedings - Design Automation Conference
影响因子：
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作者：
Ruifeng Guo;S. Reddy;I. Pomeranz
通讯作者：
I. Pomeranz