Demonstration of order statistics based Flash ADC in a 65nm process
Demonstration of order statistics based Flash ADC in a 65nm process
复制标题
65nm 工艺中基于阶数统计的闪存 ADC 演示
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Osami Wada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Mahfuzul Islam;Takehiro Kitamura;Takashi Hisakado;Osami Wada
使用制造后统计选择的 8 位 1.5GS/s 闪存 ADC
DOI：
10.1109/cicc.2010.5617410
发表时间：
2010
期刊：
IEEE Custom Integrated Circuits Conference 2010
影响因子：
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作者：
J. Proesel;Gokce Keskin;J. Plouchart;L. Pileggi
通讯作者：
L. Pileggi
具有片上比较器选择功能的基于订单统计的低功耗闪存 ADC
DOI：
10.1587/transfun.2021kep0007
发表时间：
2022
期刊：
IEICE Trans. Fundam. Electron. Commun. Comput. Sci.
影响因子：
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作者：
T. Kitamura;Mahfuzul Islam;T. Hisakado;O. Wada
通讯作者：
O. Wada
使用可变比较器偏移技术的随机分级 ADC
DOI：
10.1109/rfit49453.2020.9226236
发表时间：
2020
期刊：
2020 IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology (RFIT)
影响因子：
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作者：
Sintaro Uto;K. Ohhata
通讯作者：
K. Ohhata