Improved single particle localization accuracy with dual objective multifocal plane microscopy.
Improved single particle localization accuracy with dual objective multifocal plane microscopy.
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DOI：
10.1364/oe.17.006881
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发表时间：
2009-04-13
期刊：
影响因子：
3.8
通讯作者：
Ober RJ
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Ram S;Prabhat P;Ward ES;Ober RJ
在单粒子成像应用中，从荧光标记物检测到的光子数在所获取数据的定量分析中起着至关重要的作用。例如，在跟踪实验中，可以通过从标记实体收集更多光子来提高标记实体的定位精度。在这里，我们报告的发展双物镜多焦平面显微镜（dMUM）的单粒子研究。新的显微镜配置使用两个相对的物镜，其中一个物镜处于倒置位置，另一个物镜处于直立位置。我们表明，dMUM具有更高的光子收集效率相比，标准显微镜。我们证明，与通过标准显微镜成像相比，通过dMUM成像时，荧光标记在2D和3D中的定位准确度更高。引入分析工具来估计从dMUM图像的纳米探针的位置，并表征它们可以被确定的精度。
In single particle imaging applications, the number of photons detected from the fluorescent label plays a crucial role in the quantitative analysis of the acquired data. For example, in tracking experiments the localization accuracy of the labeled entity can be improved by collecting more photons from the labeled entity. Here, we report the development of dual objective multifocal plane microscopy (dMUM) for single particle studies. The new microscope configuration uses two opposing objective lenses, where one of the objectives is in an inverted position and the other objective is in an upright position. We show that dMUM has a higher photon collection efficiency when compared to standard microscopes. We demonstrate that fluorescent labels can be localized with better accuracy in 2D and 3D when imaged through dMUM than when imaged through a standard microscope. Analytical tools are introduced to estimate the nanoprobe location from dMUM images and to characterize the accuracy with which they can be determined.
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影响因子：
56.9
作者：
Bates, Mark;Huang, Bo;Zhuang, Xiaowei
通讯作者：
Zhuang, Xiaowei
DOI：
10.1073/pnas.0401638101
发表时间：
2004-04-27
影响因子：
11.1
作者：
Gordon, MP;Ha, T;Selvin, PR
通讯作者：
Selvin, PR
影响因子：
2.4
作者：
Chao, Jerry;Ram, Sripad;Ober, Raimund J.
通讯作者：
Ober, Raimund J.
影响因子：
1.6
作者：
BOBROFF, N
通讯作者：
BOBROFF, N
影响因子：
3.8
作者：
Lidke, KA;Rieger, B;Heintzmann, R
通讯作者：
Heintzmann, R