Annealing temperature effects on Bi6Fe2Ti3O18/LaNiO3/Si thin films by an all-solution approach
Annealing temperature effects on Bi6Fe2Ti3O18/LaNiO3/Si thin films by an all-solution approach
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全溶液法研究退火温度对 Bi6Fe2Ti3O18/LaNiO3/Si 薄膜的影响
DOI：
10.1016/j.jallcom.2016.10.011
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发表时间：
2017-02
影响因子：
6.2
通讯作者：
Yuping Sun
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Jianming Dai;Wenhai Song;Xuebin Zhu;Yuping Sun
全溶液方法成功地在溶液衍生的 LaNiO3/Si 基底上沉积 Bi6Fe2Ti3O18(BFTO18) 薄膜。研究了退火温度对介电、漏电、铁电和磁性能的影响。详细讨论了介电、泄漏和铁电特性的退火依赖性的机制。所有衍生薄膜都观察到室温弱铁磁性。研究结果将为低成本溶液法制备大面积BFTO18多铁性薄膜提供有效途径。
An all-solution approach is successfully used to deposit Bi6Fe2Ti3O18(BFTO18) thin films onto solution-derived LaNiO3/Si substrates. The effects of annealing temperature on the dielectric, leakage, ferroelectric and magnetic properties are investigated. The mechanisms about the annealing dependence of dielectric, leakage and ferroelectric properties are discussed in detail. Room-temperature weak ferromagnetism is observed for all the derived thin films. The results will provide an effective route to prepare BFTO18 multiferroic thin films with large area by low-cost solution method.
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铁电 Bi6Fe2Ti3O18 薄膜中增强的剩余极化
影响因子：
3.1
作者：
Song, Wenhai;Yang, Jie;Zhu, Xuebin;Sun, Yuping
通讯作者：
Sun, Yuping
DOI：
10.1049/ep.1970.0039
发表时间：
1970
期刊：
Electronics and Power
影响因子：
--
作者：
G. Pridham
通讯作者：
G. Pridham
DOI：
10.1088/0031-9112/21/12/031
发表时间：
1970-12
期刊：
Physics Bulletin
影响因子：
--
作者：
A. Stoneham
通讯作者：
A. Stoneham
影响因子：
3.2
作者：
K. Meher;K. Varma
通讯作者：
K. Meher;K. Varma
DOI：
10.1088/0953-8984/11/16/014
发表时间：
1999-04
期刊：
Journal of Physics: Condensed Matter
影响因子：
--
作者：
A. Srinivas;S. Suryanarayana;G. Kumar;Mahesh Kumar
通讯作者：
A. Srinivas;S. Suryanarayana;G. Kumar;Mahesh Kumar