High-Resolution Conductivity Mapping with STEM EBIC
High-Resolution Conductivity Mapping with STEM EBIC
复制标题
使用 STEM EBIC 进行高分辨率电导率绘图
DOI：
10.31399/asm.cp.istfa2022p0251
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Regan, B. C.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Hubbard, William A;Chan, Ho Leung;Regan, B. C.
影响因子：
4
作者：
Hubbard, W. A.;Lingley, Z.;Foran, B.
通讯作者：
Foran, B.
影响因子：
19
作者：
Hubbard, William A.;Lodico, Jared J.;Regan, Brian C.
通讯作者：
Regan, Brian C.
影响因子：
4.6
作者：
Hubbard, William A.;Mecklenburg, Matthew;Regan, B. C.
通讯作者：
Regan, B. C.