Scanning electron microscopy as a flexible technique for investigating the properties of UV-emitting nitride semiconductor thin films
Scanning electron microscopy as a flexible technique for investigating the properties of UV-emitting nitride semiconductor thin films
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扫描电子显微镜作为研究紫外发射氮化物半导体薄膜特性的灵活技术
DOI：
10.1364/prj.7.000b73
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发表时间：
2019
影响因子：
7.6
通讯作者：
Trager-Cowan C
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Trager-Cowan C
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影响因子：
4
作者：
Bruckbauer, Jochen;Edwards, Paul R.;Martin, Robert W.
通讯作者：
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作者：
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Martin, Robert W.
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作者：
Callahan, Patrick G.;Haidet, Brian B.;Mukherjee, Kunal
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Mukherjee, Kunal
受限半导体器件结构中扩展晶体缺陷的无损表征。
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6.7
作者：
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Trager-Cowan, Carol