Ptychographic microscopy via wavelength scanning
Ptychographic microscopy via wavelength scanning
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通过波长扫描的叠印显微镜
DOI：
10.1063/1.4979512
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发表时间：
2017-04
期刊：
影响因子：
5.6
通讯作者：
Zhu J.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Bai Y.;Vettil S.P.;Pan X.;Liu C.;Zhu J.
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