High-Contrast Imaging of Nano-Channels Using a Reflection Near-Field Scanning Optical Microscope Enhanced by Optical Interference
High-Contrast Imaging of Nano-Channels Using a Reflection Near-Field Scanning Optical Microscope Enhanced by Optical Interference
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使用光干涉增强的反射近场扫描光学显微镜对纳米通道进行高对比度成像
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Masaru Sakai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masaru Sakai
光学干涉法支持的反射式近场扫描光学显微镜观察非晶记录标记
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Jpn.J.Appl.Phys. 44
影响因子：
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作者：
M.Saiki;S.Mononobe;K.Yusus;T.Tadokoro;T.Saiki
通讯作者：
T.Saiki
影响因子：
8.6
作者：
Matsuda, K;Saiki, T;Takagahara, T
通讯作者：
Takagahara, T
影响因子：
2
作者：
Hosaka, N;Saiki, T
通讯作者：
Saiki, T