Nanoscale elemental identification by synchrotron‐radiation‐based scanning tunneling microscopy
Nanoscale elemental identification by synchrotron‐radiation‐based scanning tunneling microscopy
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基于同步辐射的扫描隧道显微镜进行纳米级元素识别
DOI：
10.1002/sia.2831
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发表时间：
2008
影响因子：
1.7
通讯作者：
M. Aono
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. Saito;Y. Takagi;Koji Takahashi;H. Hosokawa;K. Hanai;T. Tanaka;M. Akai‐Kasaya;Yoshihito Tanaka;Shik Shin;T. Ishikawa;Y. Kuwahara;M. Aono
扫描隧道显微镜（STM）与同步辐射（SR）相结合，使固体表面的元素分析在纳米尺度。分析原理是基于STM观测下特定能级的内壳层激发。在半导体异质界面（Si（111）7 × 7表面上的Ge纳米岛）上的第一个演示性结果之后，通过SR-STM系统对Ge（111）2 × 8表面上的Cu纳米畴进行了纳米级元素分析的第二次试验。实现成功结果的关键是有效地提高信噪比（S/N）并提取来自内壳激励的隧道电流的元件特定调制。高信噪比信号检测的一个关键点是构建一个完整的系统，包括带高精度光学斩波器的锁定放大器，以及通过观察束流感应电流分布来检查入射束条件的真实的控制系统。使用这些技术，已经证明了SR-STM系统为纳米尺度表面分析提供了新的可能性。版权所有© 2008约翰威利父子有限公司。
Scanning tunneling microscopy (STM) combined with synchrotron radiation (SR) enabled elemental analysis on solid surfaces at an anometer scale. The principle of analysis is based on the inner‐shell excitation of a specific energy level under STM observation. After first demonstrative results on a semiconductor heterointerface (Ge nanoisland on an Si(111) 7 × 7 surface), a second trial of nanoscale elemental analysis by the SR‐STM system was accomplished for Cu nanodomains on a Ge(111) 2 × 8 surface. A key to achieve successful results is to effectively increase the signal to noise (S/N) ratio and to extract the element‐specific modulation of the tunneling current, which is derived from the inner‐shell excitation. An essential point for signal detection with a high S/N ratio is to construct a total system including lock‐in amplifier with an optical chopper for high accuracy, and a real‐time control system to check the incident‐beam condition by observing the beam‐induced current profiles. Using these techniques, it has been shown that the SR‐STM system provides new possibilities forn anoscale surface analysis. Copyright © 2008 John Wiley & Sons, Ltd.
扫描隧道显微镜与同步辐射源高亮度硬X射线微束相结合
DOI：
--
发表时间：
2006
期刊：
Japanese Journal of Applied Physics 45
影响因子：
--
作者：
立川 悠;ほか;保立和夫;A.Saito
通讯作者：
A.Saito
通过开发绝缘体涂层尖端降低同步辐射扫描隧道显微镜噪声的研究
DOI：
--
发表时间：
2007
期刊：
Surface Science Vol.601
影响因子：
--
作者：
A. Saito;K. Takahashi;Y. Takagi;K. Nakamatsu;K. Hanai;Y. Tanaka;D. Miwa;M. Akai-kasaya;S. Shin;S. Matsui;T. Ishikawa;Y. Kuwahara;and M. Aono
通讯作者：
and M. Aono
开发用于同步辐射硬 X 射线微束原位实验的扫描隧道显微镜。
影响因子：
2.5
作者：
A. Saito;Junpei Maruyama;K. Manabe;K. Kitamoto;Koji Takahashi;K. Takami;M. Yabashi;Yoshihito Tanaka;D. Miwa;M. Ishii;Y. Takagi;M. Akai‐Kasaya;Shik Shin;T. Ishikawa;Y. Kuwahara;M. Aono
通讯作者：
M. Aono