Precise resistivity measurement of submicrometer-sized materials by using TEM and microprobes
Precise resistivity measurement of submicrometer-sized materials by using TEM and microprobes
复制标题
使用 TEM 和微探针精确测量亚微米尺寸材料的电阻率
DOI：
--
复制
发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
H. Azehara and H. Tokumoto
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
N. Kawamoto;Y. Murakami;D. Shindo;H. Azehara and H. Tokumoto
登录
查看更多内容
原位透射电子显微镜研究电和磁现象
DOI：
--
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
作者：
J. Cumings;E. Olsson;A. Petford;Yimei Zhu
通讯作者：
Yimei Zhu
DOI：
--
发表时间：
2003
期刊：
Jpn.J.Appl.Phys 42
影响因子：
--
作者：
H.Negishi;M.Ohashi;S.Akita;Y.Nakayama
通讯作者：
Y.Nakayama
使用多壁碳纳米管探针尖端的疏水-亲水图案表面的粘附力图像中的明显化学对比
影响因子：
1.5
作者：
H. Azehara;Yuka Kasanuma;K. Ide;K. Hidaka;H. Tokumoto
通讯作者：
H. Tokumoto
影响因子：
--
作者：
N. Kawamoto;Y. Murakami;D. Shindo;Keun;K. Suganuma
通讯作者：
K. Suganuma
使用微探针和电子全息术同时测量电导率和磁性
DOI：
--
发表时间：
2006
期刊：
Appl. Phys. Lett. 88
影响因子：
--
作者：
Y. Yasui;et. al.;F. Xue;M.Yamashita et al.;T. Kawasaki;T. Okamoto;Y. Khajuria;Y.Murakami et al.
通讯作者：
Y.Murakami et al.