Direct observation of electron migration and induced stress in Cu nanowires
Direct observation of electron migration and induced stress in Cu nanowires
复制标题
直接观察铜纳米线中的电子迁移和诱导应力
DOI：
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发表时间：
2003
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tokushi Kizuka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Satoru Fujisawa;Tokushi Kizuka
W 上 0.25 μm 宽 Cu 线的电迁移
影响因子：
2.1
作者：
C. Hu;K. Y. Lee;L. Gignac;R. Carruthers
通讯作者：
R. Carruthers
DOI：
10.1143/jjap.40.l170
发表时间：
2001-02-15
期刊：
JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS
影响因子：
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作者：
Kizuka, T;Ohmi, H;Enomoto, Y
通讯作者：
Enomoto, Y