Valence band behaviour of zirconium oxide, Photoelectron and Auger spectroscopy study.
Valence band behaviour of zirconium oxide, Photoelectron and Auger spectroscopy study.
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DOI：
10.1038/s41598-018-34570-w
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发表时间：
2018-11-02
影响因子：
4.6
通讯作者：
Meyer E
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Azdad Z;Marot L;Moser L;Steiner R;Meyer E
在这项研究中，X射线光电子能谱和紫外光电子能谱相结合，探讨氧掺入对ZrOx的价带行为的影响。涉及价带的俄歇跃迁被发现模仿使用紫外光电子能谱测量的自折叠态密度。价带一旦以低价氧化物的形式构建，就保持在固定的能量位置，而不管化学计量的变化。这种行为被发现是有用的，在设置一个参考的X射线光电子能谱电荷校正。将荷电校正后的光谱结果与其它方法进行了比较，发现结果非常一致。最后，给出了ZrOx的芯能级结合能与结构性质之间的关系。
In this study X-ray Photoelectron Spectroscopy and Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy were combined to investigate the effect of oxygen incorporation on the valence band behaviour of ZrOx. The Auger transitions involving valence bands are found to mimic the self-folded density of state measured using Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy. The valence band once constructed in a sub-oxide form, stays at a fixed energy position despite the change in the stoichiometry. This behaviour is found to be useful in setting a reference for X-ray Photoelectron Spectroscopy charge correction. The results of the charged corrected spectra were compared to other methods and found to be in great agreement. Finally, a correlation between the core-level binding energy and the structural property of ZrOx is given.
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