Approximate Decomposition of Multi-output LUTs under Acceptable Error Tolerance
Approximate Decomposition of Multi-output LUTs under Acceptable Error Tolerance
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可接受误差容限下多输出 LUT 的近似分解
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Shoichi Sekiguch
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Xuechen Zang;Shigetoshi Nakatake;Hiroyuki Kozutsumi;Mitsunori Katsu;Shoichi Sekiguch
DOI：
10.1109/isqed.2019.8697679
发表时间：
2019-02
期刊：
20th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
影响因子：
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作者：
G. Pasandi;Shahin Nazarian;Massoud Pedram
通讯作者：
G. Pasandi;Shahin Nazarian;Massoud Pedram
基于存储器的可重构逻辑器件互连故障的诊断
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
IEEE the 22nd Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT)
影响因子：
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作者：
Xihong Zhou ; Senling Wang ; Yoshinobu Higami ; Hiroshi Takahashi
通讯作者：
Hiroshi Takahashi
DOI：
10.1109/date.2010.5456913
发表时间：
2010-03
期刊：
2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE 2010)
影响因子：
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作者：
Doochul Shin;S. Gupta
通讯作者：
Doochul Shin;S. Gupta