Strain States in YSZ / RE2O3 (RE=Er, Y) Multilayers as a Function of Layer Thickness and Their Effect on Interface Conductivity and Diffusion
Strain States in YSZ / RE2O3 (RE=Er, Y) Multilayers as a Function of Layer Thickness and Their Effect on Interface Conductivity and Diffusion
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YSZ / RE2O3 (RE=Er, Y) 多层膜中的应变状态与层厚度的关系及其对界面电导率和扩散的影响
DOI：
10.1557/opl.2013.577
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
D. Stolten
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
J. Keppner;C. Korte;J. Schubert;W. Zander;M. Ziegner;D. Stolten
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M. Murakami
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影响因子：
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N. Schichtel;C. Korte;D. Hesse;N. Zakharov;B. Butz;D. Gerthsen;J. Janek
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通讯作者：
H. Richter
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通讯作者：
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