Precision and accuracy in smFRET based structural studies-A benchmark study of the Fast-Nano-Positioning System.
Precision and accuracy in smFRET based structural studies-A benchmark study of the Fast-Nano-Positioning System.
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基于 smFRET 的结构研究的精度和准确度——快速纳米定位系统的基准研究
DOI：
10.1063/1.5006477
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
J. Michaelis
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
J. Nagy;T. Eilert;J. Michaelis
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影响因子：
3
作者：
Brunger, Axel T.;Strop, Pavel;Vrljic, Marija;Chu, Steven;Weninger, Keith R.
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影响因子：
48
作者：
Muschielok, Adam;Andrecka, Joanna;Michaelis, Jens
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作者：
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作者：
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作者：
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