Impact of Combinational Logic Delay for Single Event Upset on Flip Flops in a 65 nm FDSOI Process
Impact of Combinational Logic Delay for Single Event Upset on Flip Flops in a 65 nm FDSOI Process
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65 nm FDSOI 工艺中单事件翻转的组合逻辑延迟对触发器的影响
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and K. Kobayashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Furuta;Y. Tsukita;K. Yamada;M. Ebara;K. Kojima;and K. Kobayashi
时序电路单事件扰动率的时间掩蔽效应分析
DOI：
10.1109/radecs.2016.8093177
发表时间：
2016
期刊：
2016 16th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)
影响因子：
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作者：
R. M. Chen;Z. Diggins;N. Mahatme;L. Wang;E. Zhang;Y. P. Chen;Y. N. Liu;B. Narasimham;A. Witulski;B. Bhuva
通讯作者：
B. Bhuva
使用传播引起的脉冲收缩测量中子引起的 SET 脉冲宽度
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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作者：
古田;濱中;小林;小野寺
通讯作者：
小野寺