Measurement of Neutron-induced SET Pulse Width Using Propagation-induced Pulse Shrinking
Measurement of Neutron-induced SET Pulse Width Using Propagation-induced Pulse Shrinking
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使用传播引起的脉冲收缩测量中子引起的 SET 脉冲宽度
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小野寺
中科院分区：
文献类型：
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作者：
古田;濱中;小林;小野寺
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基于缓冲环的全数字片上监视器，用于监测 PMOS 和 NMOS 工艺变异性和老化影响
DOI：
10.1109/ddecs.2010.5491792
发表时间：
2010
期刊：
13th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems
影响因子：
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作者：
T. Iizuka;T. Nakura;K. Asada
通讯作者：
K. Asada
90 nm 技术中中子和 α 粒子引起的瞬态
DOI：
10.1109/relphy.2008.4558932
发表时间：
2008
期刊：
2008 IEEE International Reliability Physics Symposium
影响因子：
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作者：
B. Narasimham;M. Gadlage;B. Bhuva;peixiong zhao;L. Massengill;W. T. Holman;A. Witulski;Xiaowei Zhu;A. Balasubramanian;S. Wender
通讯作者：
S. Wender
90 nm 双 V/sub T/ CMOS 工艺中耐 SER 锁存器的测量和分析
影响因子：
5.4
作者：
P. Hazucha;T. Karnik;S. Walstra;B. Bloechel;J. Tschanz;J. Maiz;K. Soumyanath;G. Dermer;S. Narendra;V. De;S. Borkar
通讯作者：
S. Borkar
直接测量重离子辐照的 0.2μm SOI 逻辑单元中的 SET 脉冲宽度
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
IEEE Transactions on Nuclear Science 53(6)
影响因子：
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作者：
Yoshimitsu Yanagawa;et. al.;Yoshimitsu Yanagawa
通讯作者：
Yoshimitsu Yanagawa